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產品名稱:

VCSEL LIVT 光學測試系統

發布日期: 2025-04-08
訪問量: 1560
VCSEL LIVT 光學測試系統,VCSEL器件較大的發光角和快速脈沖模式使得傳統的激光功率計不能得到理想的測試結果
  • 詳細內容

VCSEL LIVT 光學測試系統

近年來,VCSEL產業得到了迅猛的發展,VCSEL作為新一代光存儲和光通信應用的核心器件,應用在光并行處理、光識別、光互聯系統、光存儲等領域。隨著智能化信息世界的不斷發展,VCSEL將廣泛應用在消費電子3D成像、物聯網、數據中心/云計算、自動駕駛等領域。其中,VCSEL在消費電子領域發揮越來越重要的作用,VCSEL可用來進行智能手機人臉識別、無人機避障、VR/AR、掃地機器人、家用攝像頭等。

<strong>VCSEL LIVT 光學測試系統</strong>(圖1)  <strong>VCSEL LIVT 光學測試系統</strong>(圖2)


VCSEL器件較大的發光角和快速脈沖模式使得傳統的激光功率計不能得到理想的測試結果, 此外,電光轉換效率和波長-溫度漂移成為了評價VCSEL 器件的關鍵指標。我們公司推出的VCSEL LIVT 測試系統,解決了上述的測試難題,是行業內研發測試,質量檢查,生產測試的理想選擇方案。


<strong>VCSEL LIVT 光學測試系統</strong>(圖3)   <strong>VCSEL LIVT 光學測試系統</strong>(圖4)


VCSEL LIVT 測試系統使用 Spectralon 、 Permaflect 或 Spectraflect 積分球對器件發光進行收集。該材料對紫外-可見-紅外范圍內的光都具有*高的光譜反射率, 可分別滿足研發端和產線段對高低溫度測試和產線端設備免維護性的要求。此外,通過選擇不同尺寸的積分球,可以滿足從毫瓦到千瓦量級的激光功率測試。

用戶可根據需要選擇不同尺寸和功率的溫度控制器,并將待測器件置于溫度控制器上以保證待測器件工作在理想的溫度。系統搭配的高速探測器可精準并快速的采集 VCSEL 發出的脈沖光,并依據用戶設置的測試方法完成完整的 LIVT 測試。

產品特點:

· 精準,快速,便捷的自動化 LIVT 測試

· 經溯源*** NIST 穩定準確的 940nm 標準光源校正

· 高穩定性高分辨率光譜分析儀(光譜分辨率***高達 0.1-0.16nm)

·  Spectralon 材料,耐溫 400 度

· 精準快速的溫度控制

· 精確快速的數據采集(** 200KHz)

· 用戶自定義驅動方式(如:脈寬,周期等)

· 強大的軟件功能,可記錄 LIVT 曲線和 T-W

(溫度-波長漂移)曲線

VCSEL LIVT 光學測試系統 規格參數:

產品型號

CSTM-VCSEL-PW-060-LIVT

積分球材質

Spectralon/Spectraflect/Permaflect

積分球尺寸(英寸)

6 (可定制)

入光口徑(英寸)

1.5 (可定制)

光譜儀波長范圍(nm)

800-980

光譜儀分辨率 FWHM(nm)

0.1-0.16nm

光譜儀波長探測精度(nm)

±0.1nm

**采樣頻率

200KHz

功率探測范圍(Spectralon) @940nm

1mW ~ 200W

高速探測器線性度

0.5%

高速探測器測試精度

±1%

高速探測器有效讀數

5 位

VCSEL 溫控范圍(℃)

1-85

VCSEL 溫控精度(℃)

±0.1

數據傳輸接口

USB

積分球滑軌尺寸(mm)

60x20x30

積分球滑軌重量(kg)

5kg

 

軟件功能

 

VCSEL LIVT 設置

數據輸出

驅動電流/電壓大小

光譜峰值

掃描脈沖寬度/占空比

光譜寬度(FWHM)

掃描脈沖數量

平均功率/峰值功率

溫度范圍

LIV 關系

采樣頻率

T-W 關系


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